Fundamental para o monitoramento e medição correta de processos em que a qualidade precisa ser comprovada, a metrologia será tema de um seminário a ser realizado no dia 07 de julho, das 09 às 12h30, no auditório do Edifício Findes.

Com o tema Metrologia e Qualidade, o seminário irá reunir especialistas renomados sobre o tema, para mostrar como é possível aumentar a competitividade medindo corretamente produtos e processos, atendendo aos padrões de qualidade exigidos internacionalmente e se preparando para enfrentar as barreiras técnicas existentes.

As palestras são: “A evolução da metrologia”, com o prof. dr. Humberto Siqueira Brand, diretor de Metrologia Científica e Industrial do Inmetro e membro do Comitê Internacional de Pesos e Medidas (CIPM); “A importância de um sistema para a gestão da qualidade dos resultados”, dr. Silvio Francisco dos Santos, pesquisador-tecnologista em Metrologia e Qualidade no Inmetro e Coordenador da Qualidade da Diretoria de Metrolodia Científica e Industrial – Dimci/Inmetro; “Metrologia, qualidade, acreditação e certificação como ferramentas para abertura de mercados”, com dr. Álvaro Medeiros de Faria Theisen, diretor-geral da Underwriters Laboratories (UL) para a América Latina.

As inscrições são gratuitas e podem ser feitas pelos telefone: 27 3334-5747 ou pelo e-mail: [email protected]. Outras informações no site: www.iel-es.org.br